3141. World class master scheduling : best practices and lean Six Sigma continuous improvement
پدیدآورنده : by Donald H. Sheldon
کتابخانه: (هرمزکان)
موضوع : Production scheduling,Six sigma (Quality control standard),Production management -- Quality control
رده :
TS
157
.
5
.
S52
2006
3142. World class quality :
پدیدآورنده : Keki R. Bhote, Adi K. Bhote.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Experimental design.,Process control-- Statistical methods.,Quality control-- Statistical methods.,Fabrication-- Contrôle-- Méthodes statistiques.,Plan d'expérience.,Qualité-- Contrôle-- Méthodes statistiques.,BUSINESS & ECONOMICS-- Quality Control.,Experimental design.,Kwaliteitszorg.,Procesbeheersing.,Process control-- Statistical methods.,Quality control-- Statistical methods.,Statistische methoden.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Quality Control.
رده :
TS156
.
B563
2000eb
3143. World report on knowledge for better health :
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Medical care-- Quality control.,Medical policy.,Public health-- Research.,World health.,Delivery of Health Care.,Global Health.,Health Services Research.,Politique sanitaire.,Santé mondiale.,Santé publique-- Recherche.,Soins médicaux-- Qualité-- Contrôle.,Atención médica-- Control de calidad.,Gezondheidszorg.,Investigación sobre servicios de salud.,Medical care-- Quality control.,Medical policy.,Prestación de atención de salud.,Public health-- Research.,Salud mundial.,World health.
رده :
RA441
.
W674
2004
3144. Writing, ethics, and group projects for financial accounting
پدیدآورنده : Stuart, Bruce
کتابخانه: (سمنان)
موضوع : Standards ، Accounting,Moral and ethical aspects ، Accounting,Quality control ، Financial statements
رده :
HF
5626
.
S7W7
3145. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith )David Keith(
موضوع : ، Semiconductors-- Design and construction Quality control,، Integrated circuits-- Measurement,، Semiconductor wafers-- Inspection,، X-rays-- Diffraction,، Fluroscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
3146. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
3147. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
3148. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy
رده :
E-BOOK
3149. Your code as a crime scene :
پدیدآورنده : Adam Tornhill ; edited by Fahmida Y. Rashid ; foreword by Michael Feathers
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Computer architecture,Computer programming-- Management,Computer software-- Quality control,Forensic sciences
رده :
QA76
.
76
.
Q35
3150. Zero defects; a new dimension in quality assurance
پدیدآورنده : Halpin, James F.
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Quality control
رده :
TS
156
.
Q3
.
H28
3151. Zero defects:a new dimension in quality assurance
پدیدآورنده : HALPIN,JAMES F
کتابخانه: (طهران)
موضوع : QUALITY CONTROL
رده :
TS
156
.
H28
3152. Zero quality control :
پدیدآورنده : Shigeo Shingo ; translated by Andrew P. Dillon ; with a preface by Norman Bodek.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Quality control.,Quality control.,United states., 4
رده :
TS156
.
S472513
1986
3153. Zero quality control: source inspection and the poka-yoke system
پدیدآورنده : Shingo, Shigeo
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Quality control
رده :
TS
156
.
S472513
1986
3154. ...a concept of quality and its control for the sventies...
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Quality control
رده :
TS
156
.
Q3
.
I5
3155. based communications-Reconstruction of chaotic signals with applications to chaos
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Signal processing. ; Telecommunication ; Quality control. ; Chaotic behavior in systems. ;
3156. based software-Testing and quality assurance for component
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Computer software ; Quality control. ; Computer software ; Testing. ;
3157. based software quality :-Component
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Component software ; Quality control ;
3158. chemical chanas in food during procesing
پدیدآورنده : thomas richardson jhon W.Finley
کتابخانه: (کرمان)
موضوع : food Analysis-congressws,food industjant tsodr-quality control-congressey
رده :
TP
372
.
5
.
C74
1985
3159. chemical chanas in food during procesing
پدیدآورنده : thomas richardson jhon W.Finley
کتابخانه: (کرمان)
موضوع : food Analysis-congressws,food industjant tsodr-quality control-congressey
رده :
TP
372
.
5
.
C74
1985